S8000 RS高精度冷鏡式露點(diǎn)儀傳感器有一個(gè)微型的拋光金屬鏡面,使用固態(tài)帕爾貼熱電泵將鏡面冷卻到露點(diǎn)溫度。當(dāng)溫度降至該露點(diǎn)時(shí),鏡面會(huì)形成冷凝。一個(gè)由可見的紅色發(fā)光二極管和一個(gè)高增益光電探測(cè)器組成的電光回路來檢測(cè)冷凝的形成。將鏡面反射光強(qiáng)度減少量作為儀表控制電路的反饋輸入,來調(diào)整施加于帕爾貼的冷卻功率,這樣鏡面就被控制在一個(gè)蒸發(fā)量與冷凝量以相同的數(shù)率發(fā)生的平衡狀態(tài)。此時(shí)由鉑電阻溫度計(jì)測(cè)量出的鏡面溫。
S8000 RS高精度冷鏡式露點(diǎn)儀亮點(diǎn)
- ±0.1°C 的精度
- 精確測(cè)量,zui低到-90°C露點(diǎn)(100 ppb),無需額外制冷模塊
- 簡(jiǎn)便的設(shè)置和操作,通過觸摸屏界面
- 傳感器探頭優(yōu)化,保證到低濕水平的超快響應(yīng)時(shí)間
- 高靈敏度測(cè)量
- 目測(cè)鏡,用于觀測(cè)鏡面上的冷凝物
- 堅(jiān)固的19" x 4U外殼,可靈活安裝
- 僅17kg的重量 – 比競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手的產(chǎn)品至少輕一半以上
- Ethernet 或者 USB 連接
- SD 數(shù)據(jù)采集卡
S8000 RS技術(shù)指標(biāo) |
露點(diǎn)傳感器性能 | 測(cè)量原理 | 冷鏡 | 測(cè)量范圍 | RS80: -80 ~ +20°Cdp RS90: -90 ~ +20°Cdp | 測(cè)量精度* | ±0.1°C | 重復(fù)性 | ±0.05°C | 鏡面 | 鍍金銅 | 溫度測(cè)量 | 4 線 Pt100, 1/10 DIN class B | 樣氣流量 | 500 ~ 1000 ml/min | 樣氣壓力 | zui大 1 MPa (10 barg) | 外置 PRT | 溫度測(cè)量 | 4 線 Pt100, 1/10 DIN class B | 測(cè)量精度 | ±0.1°C | 電纜長(zhǎng)度 | 2 m (zui長(zhǎng) 250 m) | 流量傳感器 | 測(cè)量范圍 | 0 ~ 2000 ml/min | 選配的內(nèi)置式壓力傳感器 | 測(cè)量范圍 | 0 ~ 1.6 MPa (0 ~ 16 bara) | 測(cè)量精度 | 滿量程的 0.25% | 測(cè)量單位 | barg, psig, kPa, MPa | 監(jiān)控器 | 分辨率 | 用戶可選,zui大分辨到 0.001°C,和參數(shù)有關(guān) | 測(cè)量單位 | 濕度: °Cdp 或 °Fdp, % RH, g/m3, g/kg, ppmV, ppmW (SF6) 溫度: °C 或 °F 壓力: barg, psig, kPa, Mpa | 輸出 | 模擬: 三通道,可設(shè)置為 4-20 mA、 0-20 mA 或者 0-1 V 數(shù)字: USB 和 Modbus TCP (通過 Ethernet) 報(bào)警: 兩路電壓釋放觸點(diǎn),一路是過程報(bào)警,一路是出錯(cuò)報(bào)警; 1 A @ 30 V DC | 人機(jī)界面 | 5.7” LCD 觸摸屏, 藍(lán)底白字 | 數(shù)據(jù)采集 | SD Card (512 Mb) 和 USB 接口 可通用SD Card (FAT-32) – zui大支持32 Gb,可容納 2400萬條數(shù)據(jù)或者560天(以兩秒鐘一條計(jì)算) | 環(huán)境條件 | 5 ~ 30°C, zui高 80% RH | 供電 | 85 ~ 264 V AC, 47/63 Hz | 功耗 | 250 VA | 機(jī)械指標(biāo) | 尺寸 | 177 x 440 x 550mm (h x w x d) | 重量 | 17kg | 樣氣管路 | 316 不銹鋼 | 樣氣連接 | 入口: ?” VCR 出口: ?” Swagelok | 其他 | 校驗(yàn) | 5-點(diǎn)室內(nèi)校驗(yàn),標(biāo)準(zhǔn)配置溯源到英國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn), UKAS 認(rèn)證的校驗(yàn)需要選購(gòu)—請(qǐng)咨詢廠商 | * 測(cè)量精度表示被檢儀表和修正后的標(biāo)準(zhǔn)之間的zui大偏離值。同時(shí)必須考慮校驗(yàn)系統(tǒng)的不確定度和測(cè)試或后續(xù)使用中的環(huán)境條件。 | |